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示波器智能手機(jī)和平板電腦:特定的測試方案

發(fā)表日期:2017/10/25 瀏覽次數(shù):

智能手機(jī)和平板電腦設(shè)備內(nèi)部開始廣泛采用MIPI、USBHDMI、MHL、DP、LPDDR、UFS等高速數(shù)字接口,同時功耗的降低是所有廠家共同關(guān)心的話題,小巧的體積內(nèi)包含眾多無線、射頻、模擬和數(shù)字信號,EM/EMC和干擾也是一個需要關(guān)注的領(lǐng)域。

LPDDR總線移動設(shè)備中多采用并行總線LPDDR2LPDDR3,其電壓信號擺幅比傳統(tǒng)DDR2DDR3更低,物理層測試,對示波器有四個方面的要求。

-   需要示波器的本底噪聲和固有抖動都比較小,Infinium S系列10比特示波器和90000系列示波器具有業(yè)內(nèi)最小的本底噪聲和固有抖動,最平坦的帶內(nèi)頻響特性,適合這種應(yīng)用。

-   能夠方便地實施讀寫信號分離,如果使用DSO,則需使用InfiniScan,否則需使用MSO;而且一旦眼圖模板測試出現(xiàn)問題,可使用SDA選件將眼圖展開,定位到引起Fail的波形段。

-   JEDEC規(guī)定了很多參數(shù),N5431BU7231B將所有測試項目實現(xiàn)自動化測量。

-   電源信號完整性測量,LPDDR2,LPDDR3電源測試需要較高的帶寬,N7020A2GHz1:1探頭,可精確量測毫伏級的信號,并分析串?dāng)_帶來的誤差。

LPDDR2LPDDR3的協(xié)議層測試,則推薦使用U4154B邏輯分析儀。

-   B4623B協(xié)議解碼軟件,幫助用戶看到DDR總線上傳輸?shù)臄?shù)據(jù)B4622B協(xié)議一致性測試軟件檢查LPDDR2,LPDDR3上是否有協(xié)議錯誤,并生成協(xié)議測試的報告。

功耗測試和驗證是德科技的N67058直流電源綜測儀,可以長時間監(jiān)測智能設(shè)備的充放電;而示波器,配合N2820AN2821A小信號測試探頭,可同時觀察關(guān)鍵芯片和整機(jī)的功耗,其最小可測電流是500nA,最小可測電壓是3uV,并可直接給出庫倫測量值。對于待

機(jī)時間功耗測試,只有這種探頭才可完成測量,傳統(tǒng)的探頭,僅能測量毫安和毫伏級別的信號,而一般手機(jī)的待機(jī)電流在100微安左右。

EMI/EMC預(yù)調(diào)試EMl問題的產(chǎn)生常來自開關(guān)電源、液晶屏、金屬屏蔽殼的靜電、電源濾波等。真正的EMI/EMC測試應(yīng)該使用基于頻譜分析儀的方案,但示波器可用在預(yù)調(diào)試階段,尤其是InfiniumS系列10比特示波器,其SFDR無雜散動態(tài)范圍比8比特示波器高10dBc左右,再加上Infinium示波器同時支持多達(dá)8FFT窗口的分析,支持FFT模板測試,與頻譜儀相比亦尤其獨特之處,因此可以用在預(yù)調(diào)試階段,探頭則可使用N9311X-110近場探頭,支持100KHz~3GHz頻段。

串行總線的測試和驗證低速串行總線,可以使用低價位的Infini/ision 2000X,3000X,4000X,6000×系列示波器,但對于高速串行總線,比如USB2.0USB3.0、MIPIHDMI、UFS、MHLUHSl1等,不僅需使用Infinium系列示波器完成發(fā)射端一致性測試,還需要BERTM8000AWG8190A完成接收端的測試,對于中間的線纜連接器和PCB,則建議使用ENA-TDR,因為ENA-TOR沒有靜電問題,而且有個獨特的功能,可以在被測對象加電的情況下完成測試。

對發(fā)射端測試,Infinium示波器不僅僅停留在一致性測試,眼圖模板一旦失敗,它還能將眼圖展開,告訴工程師眼圖失敗對應(yīng)的具體波形位置,該位置對應(yīng)的協(xié)議解碼以及信號抖動情況,Infinium示波器可以同時對波形的16個位置同時分析和比較。

在協(xié)議層,固然可使用示波器的協(xié)議解碼功能,只不過這時需要示波器很深的存儲深度,比如HDMl協(xié)議分析就建議示波器的存儲深度至少達(dá)500M點。即便如此,示波器的協(xié)議解碼仍無法替代是德科技的協(xié)議分析儀,如MIPIUFS協(xié)議分析不僅有分析還有激勵,只有這樣

才能完成協(xié)議一致性測試,也就是根據(jù)規(guī)范的協(xié)議定義,對比實測結(jié)果,給出Fail/Pass信息,并指出Fail的具體位置。在智能設(shè)備測試領(lǐng)域,是德科技的協(xié)議分析儀包括MIPI D-PHY,M-PHY,UFSLPDDR 2,LPDDR3等。

電源完整性測試智能手機(jī)或平板中的電源分配網(wǎng)絡(luò)要支持各種電壓的直流電源(如:+-5V,+1.5V,+1.8V,+1.2V等),給CPU供電,給各個芯片供電。CPUIC用電量很大,而且是動態(tài)耗電的,瞬時電流可能很大,也可能很小,但是電壓必須平穩(wěn)(即紋波和噪聲必須較小),以保持CPUIC的正常工作。這都對電源分配網(wǎng)絡(luò)提出了苛刻的要求,對工程師而言,電源設(shè)計和電源完整性測試是很重要的工作,是德科技在這方面積累了大量的技術(shù)和測試方案,包括電源完整性仿真、電源完整性時域測試、電源完整性頻域測試,后面兩部分可參見前面的“微小信號和電源測試“部分。


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