力科發(fā)布全球首款Gen-Z協(xié)議分析儀

Milpitas, CA, August 6, 2019 –全球協(xié)議測(cè)試解決方案領(lǐng)導(dǎo)者力科，宣布在Summit M5x多功能協(xié)議分析儀上支持Gen-Z協(xié)議，SummitM5x是世界上第一個(gè)支持新Gen-Z規(guī)范的平臺(tái)，也是第一個(gè)提供Gen-Z一致性干擾測(cè)試能力的平臺(tái)。

Gen-Z協(xié)議采用內(nèi)存語(yǔ)義技術(shù)來(lái)減少訪問(wèn)共享內(nèi)存位置的延遲，并且是新的媒介模塊、網(wǎng)橋和交換機(jī)的核心，旨在優(yōu)化企業(yè)系統(tǒng)中數(shù)據(jù)處理的性能。Summit M5x是第一個(gè)捕獲、解碼和分析Gen-Z流量的測(cè)試解決方案，也是第一個(gè)引入干擾功能的 - 能夠在Gen-Z請(qǐng)求者和響應(yīng)者之間注入錯(cuò)誤和操縱流量，同時(shí)保持在正常的操作規(guī)范內(nèi)。此外，Summit M5x可以修改、替換、插入或刪除Gen-Z請(qǐng)求者和響應(yīng)者之間的流量，以驗(yàn)證是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范并識(shí)別協(xié)議行為中的潛在錯(cuò)誤。軟件應(yīng)用程序CATC Trace?View可幫助用戶快速確定其設(shè)備和系統(tǒng)的性能 - 即使在壓力下。這些功能相結(jié)合，為Gen-Z驗(yàn)證和開(kāi)發(fā)實(shí)驗(yàn)室打造了強(qiáng)大的測(cè)試工具，有助于確保更高的Gen-Z產(chǎn)品質(zhì)量，并更快地實(shí)現(xiàn)Gen-Z的優(yōu)勢(shì)。

Gen-Z設(shè)備的高效測(cè)試和驗(yàn)證對(duì)于成功的生態(tài)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)至關(guān)重要，力科公司的協(xié)議分析儀和Jammer工具是該過(guò)程的重要組成部分。我們非常高興力科公司如此密切參與Gen-Z技術(shù)進(jìn)步的這一階段“，Gen-Z聯(lián)盟總裁KurtisBowman表示。“數(shù)據(jù)中心技術(shù)不斷發(fā)展，以提高數(shù)據(jù)速率和減少延遲，SummitM5x具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，可以幫助開(kāi)發(fā)人員設(shè)計(jì)和測(cè)試這些新興技術(shù)，”力科協(xié)議解決方案集團(tuán)營(yíng)銷副總裁JoeMendolia說(shuō)，“SummitM5x協(xié)議分析儀和Jammer是一個(gè)真正的多協(xié)議平臺(tái)，它可以用于標(biāo)準(zhǔn)PCI Express測(cè)試以及最新存儲(chǔ)協(xié)議NVMExpress?（NVMe） - 包括在NVMe-MI協(xié)議規(guī)范中描述的NVMe管理技術(shù)、SATAExpress、SCSIExpress、CCIX和現(xiàn)在的Gen-Z。憑借Summit M5x的高速先進(jìn)的捕獲、分析和干擾功能，隨著行業(yè)向更高性能的系統(tǒng)發(fā)展，力科為提供客戶了卓越的價(jià)值。

Summit M5x協(xié)議分析儀/Jammer的主要特性Summit M5x協(xié)議分析儀/Jammer是一個(gè)靈活且可配置的平臺(tái)，提供廣泛的功能，包括：·       監(jiān)控和分析基于Gen-Z規(guī)范的新興高速協(xié)議，傳輸速度高達(dá)32 GT / s。·       通過(guò)PCIe4.0 PHY（基于Gen-Z物理層規(guī)范v1.0）支持Gen-Z，最高可達(dá)x16鏈路寬度。·       探測(cè)方法，無(wú)需“插入器”型探頭與被測(cè)系統(tǒng)連接- 非常適合使用水平插入的基于服務(wù)器的系統(tǒng)。·       內(nèi)存緩沖區(qū)可配置為128GB  - 適用于需要長(zhǎng)時(shí)間協(xié)議記錄的用戶·       通過(guò)USB控制或1000-BaseT以太網(wǎng)遠(yuǎn)程控制。·       使用CrossSync?功能與力科的其他高速協(xié)議分析儀同步，該功能可實(shí)現(xiàn)時(shí)間對(duì)齊的數(shù)據(jù)包流量以及來(lái)自多個(gè)高速串行總線的交叉觸發(fā)，以實(shí)現(xiàn)跨橋的設(shè)計(jì)、調(diào)試和驗(yàn)證。